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18 octobre 2012

Test et fiabilité des microsystèmes électromécaniques 2012

Unnamed Venue 2151 Laurelwood Rd
Santa Clara, 95054

Date : 18 octobre 2012

Le MEMS Journal et le MEPTEC présentent la 4e conférence annuelle sur les tests et la fiabilité des microsystèmes électromécaniques, le 18 octobre 2012 à Santa Clara en Californie. Cet évènement priorisera le rassemblement d’experts dans le domaine des tests de microsystèmes électromécaniques et des fournisseurs d’équipements pertinents avec l’objectif de favoriser la rentabilité de votre entreprise.

Les thèmes abordés :

  • tests MEMS and des stratégies de fiabilités ultramodernes
  • tests MEMS aux niveaux des plaques
  • tests MEMS de post-emballage
  • techniques et des conseils spécifiques
  • statut des équipements pour des tests MEMS et le développement

Pour plus de détails, visitez le site du MEMS Testing and Reliability 2012 (en anglais).

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