Test et fiabilité des microsystèmes électromécaniques 2012
Unnamed Venue 2151 Laurelwood Rd,Santa ClaraLe MEMS Journal et le MEPTEC présentent la 4e conférence annuelle sur les tests et la fiabilité des microsystèmes électromécaniques, le 18 octobre 2012 à Santa Clara en Californie. Cet évènement priorisera le rassemblement d’experts dans le domaine des tests de microsystèmes électromécaniques et des fournisseurs d’équipements pertinents avec l’objectif de favoriser la rentabilité de […]